Mindestanforderungen: 1) Messung von IR-Spektren/IR-Bildern mit der photothermischen induzierten Resonanztechnik im Kontaktmodus u. im Tappingmodus im Wellenzahlbereich 1800-800 cm-1; 2) Optionale Aufrüstbarkeit des Wellenzahlbereichs um 3600-2700 cm-1; 3) Informationstiefe der IR-Spektren/IR-Bilder mit photothermischem Tapping AFM-IR Modus von ca. 100 nm; 4) Informationstiefe der IR-Spektren/IR-Bilder mit oberflächensensitivem photothermischen AFM-IR im Kontaktmodus von <30nm; 5) Darstellung der nanoskaligen IR-Spektren/IR-Bilder im photothermischen Tapping AFM-IR mit einer lateralen Auflösung von mind. 10 nm; 6) Gleichzeitige Messung von IR-Absorption, Topographie u. mech. Kontaktresonanzeigenschaften (nicht nur auf Phase beschränkt) der Proben; 7) Direkter Vergleich der gemessenen photothermischen AFM-IR Spektren mit herkömmlichen FTIR-Datenbanken; 8) Aufrüstbarkeit mit einer nanothermischen Messmethode, um lokale Temperaturübergangsphänomene u. thermische Eigenschaften zu bestimmen