Rastersondenmikroskopiesystem mit einem Kryostaten mit geschlossenem Kreislauf und einem supraleitenden Magneten. Das Mikroskop muss bildgebende Verfahren wie Rasterkraftmikroskopie (AFM), Magnetkraftmikroskopie (MFM), Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM) und andere unterstützen.